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    1. +86-13923829816
      產品屬性

      VI-direct微干涉儀

      VI-direct微干涉儀,直接將平面度測試的范圍擴展到最小直徑的領域。Fizeau型干涉儀能夠測量直徑約為0.8mm至3.6mm的光學零件的表面平整度。成本效益高的微干涉儀VI-direct可用于測試光學元件,如微棱鏡、激光晶體、光纖終端等。

      資華貿易有限公司
      聯系方式: +852-23808060
      電話號碼::18318333238(陳先生)
      電話號碼:13923829816(曾先生)
      地址: 香港,九龍,彌敦道789號健鋒保險大廈11樓04室
      產品介紹

      VI-direct微干涉儀

      微干涉儀VI-direct直接將平面度測試的范圍擴展到最小直徑的領域。Fizeau型干涉儀能夠測量直徑約為0.8 mm至3.6 mm的光學零件的表面平整度。成本效益高的微干涉儀VI-direct可用于測試光學元件,如微棱鏡、激光晶體、光纖終端等。




      特征:

         1、通過USB端口直接連接到PC,不需要幀抓取器

         2、高分辨率數碼相機(1600x1200像素)

         3、因暴露時間短而對振動不敏感

         4、廣泛的光學和機械配件

         5、可用于垂直、水平或傾斜方向。這使得儀器在客戶特定應用中的用途極其廣泛。

         6、由于其緊湊的設計,干涉儀非常適合集成在特定應用的工作站中。

         7、使用Intomatik-S進行視覺或可選軟件支持的評估

         8、光源:光纖耦合、穩定或非穩定He-Ne激光器(λ=632.8 nm)或穩定激光二極管(λ=635 nm)


      技術參數:

      Model

      Micro-Interferometer VI-direct

      Art. No.

      244 318

      Type of interferometer

      Fizeau type

      Camera resolution

      1600x1200 Pixel

      Laser

      Fiber coupled He-Ne-laser with 632.8 nm wavelength

      test field diameter

      0.8 to 3.6 mm

      Measurement uncertainty with visual evaluation

      λ/10

      Measurement uncertainty with PC-based evaluation

      λ/20


      VI-direct微干涉儀

      微干涉儀VI-direct直接將平面度測試的范圍擴展到最小直徑的領域。Fizeau型干涉儀能夠測量直徑約為0.8 mm至3.6 mm的光學零件的表面平整度。成本效益高的微干涉儀VI-direct可用于測試光學元件,如微棱鏡、激光晶體、光纖終端等。




      特征:

         1、通過USB端口直接連接到PC,不需要幀抓取器

         2、高分辨率數碼相機(1600x1200像素)

         3、因暴露時間短而對振動不敏感

         4、廣泛的光學和機械配件

         5、可用于垂直、水平或傾斜方向。這使得儀器在客戶特定應用中的用途極其廣泛。

         6、由于其緊湊的設計,干涉儀非常適合集成在特定應用的工作站中。

         7、使用Intomatik-S進行視覺或可選軟件支持的評估

         8、光源:光纖耦合、穩定或非穩定He-Ne激光器(λ=632.8 nm)或穩定激光二極管(λ=635 nm)


      技術參數:

      Model

      Micro-Interferometer VI-direct

      Art. No.

      244 318

      Type of interferometer

      Fizeau type

      Camera resolution

      1600x1200 Pixel

      Laser

      Fiber coupled He-Ne-laser with 632.8 nm wavelength

      test field diameter

      0.8 to 3.6 mm

      Measurement uncertainty with visual evaluation

      λ/10

      Measurement uncertainty with PC-based evaluation

      λ/20


      VI-direct微干涉儀
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