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產品屬性

VI-direct微干涉儀

VI-direct微干涉儀,直接將平面度測試的范圍擴展到最小直徑的領域。Fizeau型干涉儀能夠測量直徑約為0.8mm至3.6mm的光學零件的表面平整度。成本效益高的微干涉儀VI-direct可用于測試光學元件,如微棱鏡、激光晶體、光纖終端等。

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產品介紹

VI-direct微干涉儀

微干涉儀VI-direct直接將平面度測試的范圍擴展到最小直徑的領域。Fizeau型干涉儀能夠測量直徑約為0.8 mm至3.6 mm的光學零件的表面平整度。成本效益高的微干涉儀VI-direct可用于測試光學元件,如微棱鏡、激光晶體、光纖終端等。




特征:

   1、通過USB端口直接連接到PC,不需要幀抓取器

   2、高分辨率數碼相機(1600x1200像素)

   3、因暴露時間短而對振動不敏感

   4、廣泛的光學和機械配件

   5、可用于垂直、水平或傾斜方向。這使得儀器在客戶特定應用中的用途極其廣泛。

   6、由于其緊湊的設計,干涉儀非常適合集成在特定應用的工作站中。

   7、使用Intomatik-S進行視覺或可選軟件支持的評估

   8、光源:光纖耦合、穩定或非穩定He-Ne激光器(λ=632.8 nm)或穩定激光二極管(λ=635 nm)


技術參數:

Model

Micro-Interferometer VI-direct

Art. No.

244 318

Type of interferometer

Fizeau type

Camera resolution

1600x1200 Pixel

Laser

Fiber coupled He-Ne-laser with 632.8 nm wavelength

test field diameter

0.8 to 3.6 mm

Measurement uncertainty with visual evaluation

λ/10

Measurement uncertainty with PC-based evaluation

λ/20


VI-direct微干涉儀

微干涉儀VI-direct直接將平面度測試的范圍擴展到最小直徑的領域。Fizeau型干涉儀能夠測量直徑約為0.8 mm至3.6 mm的光學零件的表面平整度。成本效益高的微干涉儀VI-direct可用于測試光學元件,如微棱鏡、激光晶體、光纖終端等。




特征:

   1、通過USB端口直接連接到PC,不需要幀抓取器

   2、高分辨率數碼相機(1600x1200像素)

   3、因暴露時間短而對振動不敏感

   4、廣泛的光學和機械配件

   5、可用于垂直、水平或傾斜方向。這使得儀器在客戶特定應用中的用途極其廣泛。

   6、由于其緊湊的設計,干涉儀非常適合集成在特定應用的工作站中。

   7、使用Intomatik-S進行視覺或可選軟件支持的評估

   8、光源:光纖耦合、穩定或非穩定He-Ne激光器(λ=632.8 nm)或穩定激光二極管(λ=635 nm)


技術參數:

Model

Micro-Interferometer VI-direct

Art. No.

244 318

Type of interferometer

Fizeau type

Camera resolution

1600x1200 Pixel

Laser

Fiber coupled He-Ne-laser with 632.8 nm wavelength

test field diameter

0.8 to 3.6 mm

Measurement uncertainty with visual evaluation

λ/10

Measurement uncertainty with PC-based evaluation

λ/20


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